Login

Meillä on teknisiä ongelmia. Emme ole pystyneet vastaanottamaan lomakettasi. Pahoittelemme ja pyydämme yrittämään uudelleen myöhemmin.

Download

Register

Meillä on teknisiä ongelmia. Emme ole pystyneet vastaanottamaan lomakettasi. Pahoittelemme ja pyydämme yrittämään uudelleen myöhemmin.

Download

Thank you for registering

An email to complete your account has been sent to

Return to the website

get direct access

Fill in your details below and get direct access to content on this page

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Meillä on teknisiä ongelmia. Emme ole pystyneet vastaanottamaan lomakettasi. Pahoittelemme ja pyydämme yrittämään uudelleen myöhemmin.

Download

Thank you for your interest

You now have access to Wafer mapping

A confirmation email has been sent to

Continue to page

Please or get direct access to download this document

As the process tool becomes more sophisticated and complicated, fiber sensors with stable detection and easy installation are required. We offer a wide range of products with specific features suitable for wafer detection in the semiconductor manufacturing.

Application: Wafer Mapping

When picking wafers with a robot gripper, it is necessary to detect the number and position of wafers set in the FOUP to avoid reducing throughput by unnecessary movements. There is also a risk of damage the wafer when the robot gripper is inserted due to narrow wafer pitch or deflection of the wafer.

Our Solution: Fiber optics specific for wafer detection

OMRON offers sensors with specialized features that have a thin-profile head and are easy to mount on robot arms for semiconductor manufacturing applications.

OMRON offers solution support for wafer transfer in the semiconductor manufacturing, by utilizing the features of this sensor to detect the number and position of wafers in the FOUP with a retro-reflective sensor.

Enabling Technologies

Sensors designed specifically for reliable detection of wafers

Fiber sensors for wafer mapping have thin-profile and are easy to mount on robot arms. Optical axis adjustment is also easy. Fiber sensors for wafer reliably detect wafers even between stacked closely together.

Related Products

e32 precision detection prod

Precision detection fiber sensor heads

Highest precision in design and manufacturing of the fibers and focal lenses ensure highest beam and spot accuracy allowing the detection of smallest objects and height differences of less than 100 μm.

Read more

Do you want to know more?

Contact Our Experts

0207 464 200
Contact us

Ota minuun yhteyttä Wafer Mapping

eu semiconductor manufacturing application 1951430146 fcard en sol

Täytäthän kaikki *-merkityt kentät. Henkilökohtaisia tietojasi käsitellään luottamuksellisesti.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Kiitos yhteydenotostasi. Otamme teihin yhteyttä mahdollisimman pian.

Meillä on teknisiä ongelmia. Emme ole pystyneet vastaanottamaan lomakettasi. Pahoittelemme ja pyydämme yrittämään uudelleen myöhemmin.

Download
0207 464 200
0207 464 200

Käytämme sivustollamme evästeitä

Nämä evästeet parantavat verkkosivuston käyttökokemusta, parantavat sivuston laatua ja auttavat meitä näyttämään sinulle sisältöä ja mainoksia, jotka todennäköisesti kiinnostavat sinua. Sallimme myös kolmansien osapuolten (mukaan lukien sosiaalinen mediamme ja mainontakumppanimme) asettaa evästeitä verkkosivustollemme. 

Valitsemalla Hyväksy kaikki evästeet hyväksyt evästeiden asettamisen ja käytön evästekäytännössämme kuvatulla tavalla. Jos haluat sallia vain toiminnalliset evästeet, valitse Hyväksy välttämättömät evästeet. Jos haluat hienosäätää käyttämiämme evästeitä, valitse Hallitse evästeitä.